[发明专利]散射体测定方法及散射体测定装置在审
| 申请号： | 202080005929.7 | 申请日： | 2020-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN113039425A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 宫下万里子;大山达史 | 申请（专利权）人： | 松下知识产权经营株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N15/04;G01N15/14;G01N21/21;G01N21/47;G01N21/64;G01P5/18 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 安香子 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 有关本发明的一技术方案的散射体测定方法包括以下处理：照射穿过散射体所存在的第1空间的第1照射光；接受通过第1照射光被散射体散射而产生的第1散射光；在散射体从第1空间移动到至少一部分与第1空间不同的第2空间后，照射穿过第2空间的第2照射光；接受通过第2照射光被散射体散射而产生的第2散射光；以及基于接受第1散射光的第1时刻与接受第2散射光的第2时刻之差、以及从第1时刻到第2时刻为止散射体移动的距离，计算散射体的速度。 | ||
| 搜索关键词： | 散射 测定 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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