[实用新型]一种镀膜涂层膜厚仪有效
| 申请号： | 202022792498.3 | 申请日： | 2020-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN213932355U | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | 范玉山;黄桃 | 申请（专利权）人： | 苏州德耐纳米科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/06 | 分类号： | G01B7/06 |
| 代理公司： | 苏州铭浩知识产权代理事务所(普通合伙) 32246 | 代理人： | 季栋林 |
| 地址： | 215000 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种镀膜涂层膜厚仪，涉及膜厚仪技术领域，为解决现有的一些涂层膜厚仪在使用时，结构单一，导致检测准确性下降的问题。所述手握载体结构的上端安装有内螺纹槽，所述手握载体结构的上方设置有膜厚检测结构，所述膜厚检测结构的前端面安装有反馈显示器，所述反馈显示器的一侧设置有复位按钮，所述膜厚检测结构的上方安装有限位结构，所述限位结构的一侧设置有圆形接口，所述圆形接口的上方安装有易弯连接线结构，所述易弯连接线结构的一端设置有手持头，所述手持头的一侧安装有检测头，所述膜厚检测结构的内部设置有控制电路板，所述控制电路板的一侧安装有接受处理器，所述接受处理器的一侧设置有电源。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 镀膜 涂层 膜厚仪 | ||
【主权项】：
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