[实用新型]薄膜基体镀前等离子体处理设备有效
申请号: | 202022672972.9 | 申请日: | 2020-11-18 |
公开(公告)号: | CN214115692U | 公开(公告)日: | 2021-09-03 |
发明(设计)人: | 宋光耀;田修波 | 申请(专利权)人: | 松山湖材料实验室 |
主分类号: | C23C14/02 | 分类号: | C23C14/02;C23C14/56;C23C16/02;C23C16/44;C23C16/54 |
代理公司: | 深圳市千纳专利代理有限公司 44218 | 代理人: | 陈培琼 |
地址: | 523000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种薄膜基体镀前等离子体处理设备,其包括通过连接通道依次连接的放料室、前处理室和镀膜室,连接通道上设有隔板,通过隔板上的狭缝能有效解决了各腔室之间的串气问题,确保各腔室的功能稳定实现。薄膜基体在经过前处理室时通过限位板进行限定,避免在收到离子风时而产生位移,确保基体表面镀前处理效果;而且通过等离子体装置能大大提高Ar原子的离化率,在空间范围内形成高密度的等离子体,有效提升薄膜基体表面的快速镀前清洁能力,进而快速将薄膜基体表面吸附的杂质气体充分释放干净,不仅清洁效果好、速度快,而且确保了薄膜基体镀前表面活性,不易产生变形或断裂现象,镀膜后膜层阻值一致性好,能够实现持续高质量生产。 | ||
搜索关键词: | 薄膜 基体 等离子体 处理 设备 | ||
【主权项】:
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