[实用新型]材料低温半球发射率的测试系统有效
| 申请号： | 202022386379.8 | 申请日： | 2020-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN213544448U | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 张思懿;沈福至;李永;王维;刘辉明;黄荣进;李来风 | 申请（专利权）人： | 中国科学院理化技术研究所 |
| 主分类号： | G01N25/00 | 分类号： | G01N25/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 李文丽 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及材料发射率测量技术领域，尤其涉及一种材料低温半球发射率的测试系统。该材料低温半球发射率的测试系统包括测试装置、真空泵、制冷装置以及控温装置，真空泵和制冷装置分别与测试装置相连，测试装置包括真空罩、屏蔽罩、辐射屏罩以及悬挂设置在辐射屏罩内部的样品台，样品台包括电加热片以及分别设置在电加热片两侧的两个金属片，各金属片背向电加热片的一侧分别设有被测样品涂层，且各金属片上分别设有温度计，电加热片和各温度计分别与控温装置相连。本实用新型提供的材料低温半球发射率的测试系统，可实现10K到300K材料的平均半球发射率的连续测量，可测量温度范围更大，进而提高了测量准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 材料 低温 半球 发射 测试 系统 | ||
【主权项】：
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