[实用新型]一种晶圆厚度自动检测装置有效
申请号: | 202022143245.3 | 申请日: | 2020-09-25 |
公开(公告)号: | CN213301155U | 公开(公告)日: | 2021-05-28 |
发明(设计)人: | 胡剑 | 申请(专利权)人: | 苏州汉立光电科技有限公司 |
主分类号: | G01B21/08 | 分类号: | G01B21/08 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种晶圆厚度自动检测装置,包括基台、位于所述基台上的X轴模组、能够沿所述X轴模组长度方向进行运动的Y轴模组以及能够沿所述Y轴模组长度方向进行运动的测量头;所述基台上设置有真空吸盘,所述X轴模组与所述Y轴模组均为直线驱动模组,所述测量头通过连接块与所述Y轴模组的运动端连接,所述测量头为非接触式激光测量头,所述测量头与所述真空吸盘位置对应。本实用新型在基台、X轴模组、Y轴模组以及测量头的配合作用下,实现了对晶圆厚度的快速检测,能够在不接触晶圆的情况下完成对晶圆厚度的测量,保证产品不受损坏,真空吸盘能够使晶圆平整的吸附在吸盘表面上,减小了测量误差。 | ||
搜索关键词: | 一种 厚度 自动检测 装置 | ||
【主权项】:
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