[实用新型]一种电子元器件老化测试箱有效

专利信息
申请号: 202022105833.8 申请日: 2020-09-23
公开(公告)号: CN212844933U 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 郑开 申请(专利权)人: 江西省开德电子科技有限公司
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00;G01D21/02
代理公司: 温州名创知识产权代理有限公司 33258 代理人: 程嘉炜
地址: 335000 江西省鹰*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 实用新型公开了一种电子元器件老化测试箱,包括机箱,所述连接杆另一端均贯穿固定板并固定连接有夹板,所述增压泵出水端通过管道贯穿水箱与机箱并连接有集水板,所述机箱内部顶端设置有电热板,所述电热板底端设置有UV灯,所述UV灯底部左端设置有排气扇,所述机箱右侧内壁上设置有温湿度传感器,所述温湿度传感器通过信号线贯穿机箱并连接有处理器。本实用新型中,通过交流电机控制夹板的移动实现对各种型号电子元器件的固定,通过机箱内部集水板、排气扇、电热板与UV灯实现内部温度、湿度、通风与光照的调节,通过温湿度传感器与处理器实现对内部环境的实时检测与调节,保证了老化的测验的精确性,值得大力推广。
搜索关键词: 一种 电子元器件 老化 测试
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