[实用新型]探针测试装置有效

专利信息
申请号: 202021711347.4 申请日: 2020-08-17
公开(公告)号: CN212845534U 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 郭永聪 申请(专利权)人: 上利新科技股份有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073;G01R31/26
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 南霆;王宁
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 实用新型提供一种探针测试装置,包括探针模块以及电极部。探针模块包括本体、滑动部以及抵靠部,其中本体包括第一滑轨;滑动部滑设于第一滑轨上且包括滑动台座以及探针部,滑动台座包括第二滑轨,探针部连接于滑动台座,且探针部上配置有至少一个探针;抵靠部包括滑动件以及接触件,滑动件滑设于第二滑轨上,接触件连接于滑动件,接触件上形成有至少一个贯孔,且探针适于穿设于贯孔。电极部包括支撑部以及弹性电极,其中支撑部可在探针的排列方向上滑动;而弹性电极连接于支撑部且高度对应于探针。
搜索关键词: 探针 测试 装置
【主权项】:
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