[实用新型]一种传感器寿命测试装置有效
申请号: | 202020943540.4 | 申请日: | 2020-05-29 |
公开(公告)号: | CN212134736U | 公开(公告)日: | 2020-12-11 |
发明(设计)人: | 欧阳胜红;谢永刚;柳元富 | 申请(专利权)人: | 苏州微测电子有限公司 |
主分类号: | G01P21/00 | 分类号: | G01P21/00;G01P21/02 |
代理公司: | 苏州瞪羚知识产权代理事务所(普通合伙) 32438 | 代理人: | 周治宇 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种传感器寿命测试装置,传感器包括磁性组件、总成电路板和用于固定总成电路板的外壳,磁性组件可转动地安装于外壳,磁性组件用于提供触发磁场,总成电路板根据触发磁场输出方波信号;该传感器寿命测试装置包括支架、转轴、固定组件以及驱动装置,转轴可转动地设置于支架的一侧,转轴用于固定安装磁性组件;固定组件围绕转轴固定设置于支架上,固定组件用于固定安装外壳;驱动装置设置于支架背离转轴的一侧并与转轴传动连接,驱动装置能够驱动转轴转动,转轴带动磁性组件相对于外壳转动,以测试传感器的使用寿命。本实用新型的传感器寿命测试装置,结构简单,测试稳定性好,可以进行长时间测试,实用性强,适合推广应用。 | ||
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【主权项】:
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