[实用新型]一种用于手机辐射性能的测试系统有效

专利信息
申请号: 202020689971.2 申请日: 2020-04-29
公开(公告)号: CN212381261U 公开(公告)日: 2021-01-19
发明(设计)人: 张博 申请(专利权)人: 德凯认证服务(苏州)有限公司
主分类号: H04M1/24 分类号: H04M1/24;G01R29/08
代理公司: 苏州隆恒知识产权代理事务所(普通合伙) 32366 代理人: 周子轶
地址: 215000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种用于手机辐射性能的测试系统,包括:电波暗室;设置于所述电波暗室内的待测物放置台;以所述待测物放置台为圆心设置的圆形轨道,设置于所述圆形轨道上与增益天线相连的极化转轴,所述极化转轴能带动所述增益天线沿所述圆形轨道旋转运动;模拟基地台,所述模拟基地台与放置于所述待测物放置台上的待测物信号连接;与所述电波暗室信号连接的信号分析单元,所述信号分析单元能用于对所述待测物的辐射信号进行分析;其中包括测试所述待测物空间分布区间数值。该系统能够实现在全自动环境下对手机辐射性能进行测试,减少人为因素的干扰,实现全方位的测试。
搜索关键词: 一种 用于 手机 辐射 性能 测试 系统
【主权项】:
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