[实用新型]一种集成电路测试分选机有效

专利信息
申请号: 202020020607.7 申请日: 2020-01-03
公开(公告)号: CN211989793U 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 柯武生;王桂桂;黄崇城;张进国 申请(专利权)人: 深圳市芯汇群微电子技术有限公司
主分类号: B07C5/344 分类号: B07C5/344;B07C5/38;B65G45/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518026 广东省深圳市福田区福田街道福*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开一种集成电路测试分选机,其包括机体,所述机体上表面设有传送带,传送带两端设有传动轴,传动轴连接有电机,所述传送带末端设有良品放置槽,所述机体上设有控制台,所述控制台与机体一侧边固定,所述机体下端设有多个支撑脚;分选器,所述分选器包括壳体、次品检测器和推动装置,所述壳体横跨机体且与机体固定连接,所述次品检测器设于壳体内上端,所述推动装置设于壳体与机体的连接处,所述次品检测器、推动装置与控制台之间电性连接。本实用新型通过次品检测器、推动装置与控制台之间的配合就能实现自动分选,结构简单,故障后便于维修,生产成本和维修成本较低,且提高了工作效率,还能保证集成电路测试分选准确性。
搜索关键词: 一种 集成电路 测试 分选
【主权项】:
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