[发明专利]一种射频测试工装的校准方法在审
| 申请号： | 202011644916.2 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN114690106A | 公开（公告）日： | 2022-07-01 |
| 发明（设计）人： | 张俭;刘晖;覃江华;胡小玲 | 申请（专利权）人： | 深圳长城开发科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人： | 郭伟刚;李闯 |
| 地址： | 518109 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种射频测试工装的校准方法，所述射频测试工装包括测试仪器和屏蔽箱，所述测试仪器具有第一信号接口和第二信号接口，所述屏蔽箱内设有固定台，所述固定台上安装有耦合板，所述屏蔽箱的侧壁上设有第一连接点和第二连接点，所述第二信号接口与所述第二连接点之间通过第三线缆连接，所述第二连接点与所述耦合板之间通过第四线缆连接。该校准方法包括如下步骤：测量出整个回路的线损，测量所述第五线缆的线损，测量出所述第一线缆和所述第二线缆的线损和；计算射频测试工装的线损。采用该校准方法可大幅调高射频测试工装校准的效率，同时大幅降低了成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 测试 工装 校准 方法 | ||
【主权项】：
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