[发明专利]一种两箱式温度冲击试验箱有效

专利信息
申请号: 202011636633.3 申请日: 2020-12-31
公开(公告)号: CN112858148B 公开(公告)日: 2021-09-28
发明(设计)人: 许斌;张杰;方亚;谢绍军;汪洋;蓝伟 申请(专利权)人: 重庆阿泰可科技股份有限公司
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00
代理公司: 重庆乐泰知识产权代理事务所(普通合伙) 50221 代理人: 林慰敏
地址: 401120 重庆市*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明属于检测设备技术领域,具体涉及一种两箱式温度冲击试验箱,包括高温箱、低温箱、测试篮、传动系统和通道,测试篮设有上保温板和下保温板,上保温板和下保温板之间连接有四个滑轨,相邻的两个滑轨之间转动连接有若干隔热板,若干隔热板均固定连接有齿轮,齿轮两侧均设有直齿,齿轮和直齿位于滑轨内部,任一直齿上部侧面贯穿滑轨连接有第一压环,另一直齿下部侧面贯穿该滑轨连接有第二压环,下保温板中间滑动连接有托盘架,托盘架与下保温板之间可拆卸固定连接,本发明在样品在升降过程中测试篮能够对样品进行保温,直至样品完全进入到另一温度箱体中后再完全打开,减少了样品在升降过程中的温度变化,提高测试数据的精度。
搜索关键词: 一种 箱式 温度 冲击 试验
【主权项】:
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