[发明专利]一种用于扫描影响因素的评价方法有效
| 申请号： | 202011612662.6 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112762856B | 公开（公告）日： | 2023-10-20 |
| 发明（设计）人： | 宋一罡;解岩;王海英;薛战军;龚新宇;张晓勇 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 中国航空专利中心 11008 | 代理人： | 王世磊 |
| 地址： | 710089 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于扫描影响因素的评价方法，以不同条件下的被测件为研究对象，开展曲面扫描影响因素的技术研究。通过精密的测量系统来获取被测件表面离散的几何坐标数据，获取样件的表面三维信息，对扫描的数据进行预处理，实现复杂曲面的构建。同时，分析点云测量误差的来源和点云测量误差对曲面轮廓评定的影响，为研制高精度大型空间曲面标准装置，搭建扫描测量系统误差分析和校准方法验证系统，实现技术验证。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 扫描 影响 因素 评价 方法 | ||
【主权项】：
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