[发明专利]一种用于NOR Flash可靠性测试的方法及系统在审
| 申请号： | 202011608547.1 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112582015A | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 林啸;钱杨;朱庆芳 | 申请（专利权）人： | 普冉半导体（上海）股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 上海元好知识产权代理有限公司 31323 | 代理人： | 张静洁;徐雯琼 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于NOR Flash可靠性测试的方法，包含：通过PC机向若干微控制单元广播数据包格式的测试指令；所述测试指令包含用于唯一识别所述微控制单元的标志号、用于唯一识别NOR Flash芯片的ID号、操作指令；所述操作指令用于指示对NOR Flash芯片进行的操作；所述微控制单元基于所述标志号丢弃所述测试指令，或基于所述ID号、操作指令向对应的NOR Flash芯片执行所述操作，并向PC机反馈操作结果。本发明还提供一种用于NOR Flash可靠性测试的系统。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 nor flash 可靠性 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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