[发明专利]一种功率半导体器件的测试夹具及测试方法在审
申请号: | 202011594012.3 | 申请日: | 2020-12-29 |
公开(公告)号: | CN112540280A | 公开(公告)日: | 2021-03-23 |
发明(设计)人: | 蔡雨萌;徐子珂;孙鹏;赵志斌 | 申请(专利权)人: | 华北电力大学 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R1/04 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 王爱涛 |
地址: | 102206 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种功率半导体器件的测试夹具及测试方法。该测试夹具包括:PCB板和设置在PCB板上的绝缘插座、第一继电器、第二继电器、第三继电器、第一BNC母座以及第二BNC母座。第一继电器控制功率半导体器件的栅极和第一BNC母座的信号端或者屏蔽端连接,第二继电器控制第二BNC母座的屏蔽端和功率半导体器件的源极或者漏极连接,第三继电器控制第二BNC母座的信号端和功率半导体器件的源极或者漏极连接。该功率半导体器件的测试夹具通过继电器来改变连接关系,无需对被测器件的第三端进行弯折即可完成测试,防止了被测器件的损伤,同时,无需对被测器件进行位置更换即可切换被测参数,简化了测试工序。 | ||
搜索关键词: | 一种 功率 半导体器件 测试 夹具 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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