[发明专利]光子电路中的光学温度测量在审
| 申请号： | 202011560101.6 | 申请日： | 2020-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN114383749A | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | C·巴纳德;J·帕克 | 申请（专利权）人： | 瞻博网络公司 |
| 主分类号： | G01K11/00 | 分类号： | G01K11/00;G02B6/42;G02B6/12;G02B6/122 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 马明月 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 涉及光子电路中的光学温度测量。利用其自身要被监测的光子器件的温度相关频谱特性、或者被放置在其附近的单独的光学温度传感器的温度相关频谱特性，光子电路组件的温度测量可以被光学地测量。通过支持对个体光子器件的温度的测量而不是仅仅对整体光子电路的温度的测量，这样的光学温度测量可以提供更精确的温度信息并且帮助改进热设计。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 电路 中的 光学 温度 测量 | ||
【主权项】：
暂无信息
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