[发明专利]用于ICF芯部自发光关键过程的全光固体超快成像系统及方法在审
| 申请号： | 202011544173.1 | 申请日： | 2020-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN112649834A | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | 高贵龙;何凯;闫欣;汪韬;田进寿;尹飞;辛丽伟;王刚;刘毅恒;姚东;李知兵;张杰;吴永程;刘冲;薛彦华 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 董娜 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于ICF芯部自发光关键过程的全光固体超快成像系统及方法，解决现有ICF内爆成像方式，存在空分辨率不足、易受核电磁脉冲干扰的问题。该系统包括脉冲光纤激光器、啁啾调节模块、皮秒级同步模块、光纤延迟模块、KB显微模块、DIM及设在DIM腔室内的光纤准直模块、偏振延时模块、皮秒级全光固体超快探测芯片、多分幅成像模块和探测模块；啁啾调节模块对脉冲光纤激光器出射的探针光进行调制；皮秒级同步模块控制光纤延迟模块对调制后的探针光进行延迟；皮秒级全光固体超快探测芯片对KB显微模块形成内爆关键过程的X射线图像进行光‑光转换，加载到偏振延时后的探针光；多分幅成像模块对携带信号光信息探针光进行分幅成像并被探测模块采集。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 icf 发光 关键 过程 固体 成像 系统 方法 | ||
【主权项】：
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