[发明专利]一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置

摘要

本发明涉及芯片制造技术领域，且公开了一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置，包括外壳，所述外壳的外侧活动连接有风扇，自动对芯片进行夹持固定，避免其在检测过程中发生移动，有利于检测操作的进行，并且利用固定操作的运行情况，触发散热操作和翻转操作，增大结构之间的联动性，操作便捷，具有较高的自动化程度，通过风扇的作用，在检测的同时利用风力作用对芯片进行时散热，避免由于芯片检测过程中，长时间运作产生的热量堆积导致芯片被烧坏，使芯片保持正常工作，检测操作顺利进行，通过夹块、转杆、非全齿轮和第二转动组件的共同作用，自动间歇翻转芯片，实现芯片的双面检测，增大芯片检测的全面性，工作效果更高。