[发明专利]激光测距机的光轴校准系统、方法及激光参数测量方法在审

专利信息
申请号: 202011520706.2 申请日: 2020-12-21
公开(公告)号: CN112526489A 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 蔡震;吴权;吉俊文;张杰;周亦镕;刘建成;陈浩;刘守喜;申君谊;孟令飞;梁晨;邹颖晖 申请(专利权)人: 江苏亮点光电科技有限公司
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497;G01S17/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215123 江苏省苏州市工业*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种激光测距机的光轴校准系统、方法及激光参数测量方法,其特征在于:包括测试主系统及副系统,所述测试主系统包括白光光源、反射组件及CCD相机,副系统包括三维平台、激光测距机、方管前置镜及角锥棱镜,三维平台调节所述激光测距机及方管前置镜的X、Y、Z机械轴位置,所述白光光源射出的白光经过反射组件后反射出平行光源,到CCD相机形成点光源光斑,构成调节基准点坐标位置;所述方管前置镜观察调节基准点坐标位置,用于校准激光测距机的机械轴位置;所述激光测距机射出的激光经过调节基准点坐标位置对比,用于校准光轴位置。本发明提高了设备校准的精度及效率,也提高了参数测量的精确性,提高了设备后续测距的精确性。
搜索关键词: 激光 测距 光轴 校准 系统 方法 参数 测量方法
【主权项】:
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