[发明专利]微波辐射计频谱细分接收机的通道耦合性能测试方法有效
| 申请号： | 202011507439.5 | 申请日： | 2020-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN112666636B | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 王佳坤;李浩;李一楠;沈尚宇;宋广南;何征;吕荣川 | 申请（专利权）人： | 西安空间无线电技术研究所 |
| 主分类号： | G01W1/18 | 分类号： | G01W1/18 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 张辉 |
| 地址： | 710100 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种微波辐射计频谱细分接收机的通道耦合性能测试方法，首先连接试验设备，将频谱细分接收机前端接入能遍历整个采样带宽(fs/2)的点频信号源，后端连接上位机，点频信号源产生的信号进入频谱细分接收机，经过处理后输出至上位机；将信号源的频率设置为各个细分通道的中心频率，经过频谱细分接收机后，对应每个频谱细分通道能够得到一个输出，并由上位机采集输出结果；最后，计算得出相对应各个通道的耦合大小。本发明方法实现简单、可靠性高、测量效率高，可以用于星载、机载、地基精细谱段微波辐射计的性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 微波 辐射计 频谱 细分 接收机 通道 耦合 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
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