[发明专利]一种用于提高测试精度的电极面积固定器在审
| 申请号： | 202011483453.6 | 申请日： | 2020-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN114636742A | 公开（公告）日： | 2022-06-17 |
| 发明（设计）人： | 杨治庆;万逸 | 申请（专利权）人： | 海南大学 |
| 主分类号： | G01N27/327 | 分类号： | G01N27/327 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 570228 海南省*** | 国省代码： | 海南;46 |
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| 摘要： | 本发明涉及分析测试领域，公开了一种用于提高测试精度的电极面积固定器，包括矩形容器，设置于矩形容器内的电极片插入腔，与电极片插入腔垂直且位于矩形容器侧面中间位置的透光孔，安装在矩形容器上的电极面积固定空心螺母，以及空心螺母内的螺母透光孔，其中透光孔和螺母透光孔的中心线在一条直线上。本发明结构简单、操作方便，减少了人工操作的误差，进而提高了不同电极之间测试性能；使用时，只需将实验所用的半导体材料溶液滴到透光孔内，烘干后便可直接使用，省时省力，提高了实验人员的工作效率；本发明提供了一种精确的固定电极面积的设备，对分析测试领域具有重要意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 提高 测试 精度 电极 面积 固定器 | ||
【主权项】：
暂无信息
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