[发明专利]基于FPGA进位链的TDC细时间测量系统及方法在审
| 申请号： | 202011482717.6 | 申请日： | 2020-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN114637182A | 公开（公告）日： | 2022-06-17 |
| 发明（设计）人： | 魏朝晖;杨俊;胡攀攀 | 申请（专利权）人： | 武汉万集光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G04F10/00 | 分类号： | G04F10/00 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 李艳丽 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于FPGA进位链的TDC细时间测量系统及方法。所述系统包括：固定延时链模块，用于生成与待测脉冲信号对应的多个延迟信号；进位链模块，用于产生基于所述多个延迟信号来测量细时间所需的进位链逻辑；进位链运行位置值计算模块，用于基于所述进位链逻辑来提取、计算进位链运行位置值；等效进位链平均时延计算模块，用于基于所述进位链运行位置值来计算所述进位链模块的等效平均时延；细时间输出模块，用于基于所述等效平均时延和所述进位链运行位置值计算细时间值。本方案在提高细时间测量灵敏度和精度的同时，也提高了测量系统的稳定性，降低了温度、电压变化带来的影响，具有结构简单、计算复杂度低、易于实施及响应时间快等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 fpga 进位 tdc 时间 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
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