[发明专利]籽晶检测方法与晶体硅锭的生产方法在审
| 申请号： | 202011455727.0 | 申请日： | 2020-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN114622269A | 公开（公告）日： | 2022-06-14 |
| 发明（设计）人： | 黎晓丰 | 申请（专利权）人： | 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司;阿特斯阳光电力集团股份有限公司 |
| 主分类号： | C30B11/14 | 分类号： | C30B11/14;C30B29/06;G01N21/84 |
| 代理公司： | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 | 代理人： | 段友强 |
| 地址： | 215000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种籽晶检测方法与晶体硅锭的生产方法，所述籽晶检测方法包括对籽晶进行预处理，使得籽晶的检测面形成金字塔状的绒面结构，所述检测面是指所述籽晶的顶面和/或底面；再采用既定光源照射所述籽晶的检测面，并在所述检测面上形成十字型的光源图像，然后，根据光源图像确定所述籽晶的侧面晶向。本申请籽晶检测方法通过对籽晶进行预处理，再采用既定光源便能快速确定籽晶的侧面晶向，操作便捷；采用上述籽晶检测方法，在晶体硅锭的生产过程中，可有效避免籽晶排布错误，保证晶体硅锭的生长质量。 | ||
| 搜索关键词： | 籽晶 检测 方法 晶体 生产 | ||
【主权项】：
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