[发明专利]基于磁阻元件的涡流阵列传感器及其裂纹定量监测方法在审
| 申请号： | 202011450705.5 | 申请日： | 2020-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN112683999A | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 何宇廷;樊祥洪;陈涛;喻健;马斌麟;宋雨键;王悦 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军空军工程大学 |
| 主分类号： | G01N27/90 | 分类号： | G01N27/90 |
| 代理公司： | 西安知诚思迈知识产权代理事务所(普通合伙) 61237 | 代理人： | 麦春明 |
| 地址： | 710038 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了基于磁阻元件的涡流阵列传感器及其裂纹定量监测方法，包括激励线圈、基底、磁阻元件；基底底面印刷激励线圈，基底顶面上方设置成阵列方式排布的磁阻元件，基底顶面与磁阻元件的导线连接；将基于磁阻元件的涡流阵列传感器贴在具有裂纹的结构件表面上，激励线圈内通电产生激励电流，裂纹处产生扰动涡流，影响磁阻元件的输出电压信号，根据输出电压信号判断是否有裂纹产生以及裂纹的长度。本发明基于磁阻元件的涡流阵列传感器裂纹定量监测方法在用于原位监测时，既可以适用于结构表面的裂纹监测，也可以适用于结构内部的裂纹监测，同时还可以扩大监测范围，提高裂纹的定量监测效果，进一步提高结构健康监控的技术水平。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 磁阻 元件 涡流 阵列 传感器 及其 裂纹 定量 监测 方法 | ||
【主权项】：
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