[发明专利]全向磁场测量方法及使用其的测量系统有效
| 申请号： | 202011436626.9 | 申请日： | 2020-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN112649765B | 公开（公告）日： | 2022-07-15 |
| 发明（设计）人： | 秦杰;郭宇豪;万双爱;刘建丰;刘栋苏;薛帅;魏克全 | 申请（专利权）人： | 北京自动化控制设备研究所 |
| 主分类号： | G01R33/02 | 分类号： | G01R33/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100074 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种全向磁场测量方法及使用其的测量系统，该方法包括：基于多个原子气室构建原子自旋三轴极化与检测回路；求解横向极化磁场信号与检测光携带的原子自旋横向极化信号的相位差，基于相位差与横向极化磁场频率调节步长的线性比例关系求解线性比例系数；调节驱动光频率至原子跃迁能级，调节驱动光功率、原子密度和横向极化磁场强度使原子自旋磁共振线宽最小；调节多原子气室复合的横向极化磁场强度，基于线性比例系数调节横向极化磁场的横向极化磁场频率，锁定原子气室色散曲线过零点，通过横向极化磁场频率以获取待测磁场的磁场强度。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中传统磁场测量方法面临死区、失锁、性能退化的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 全向 磁场 测量方法 使用 测量 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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