[发明专利]设备性能测试方法、装置、存储介质及电子设备在审
| 申请号： | 202011415458.5 | 申请日： | 2020-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN112631896A | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | 生壮;高彦平;石心 | 申请（专利权）人： | 武汉旷视金智科技有限公司;北京迈格威科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06K9/03 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 何少岩 |
| 地址： | 430073 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请涉及人脸识别技术领域，提供一种设备性能测试方法、装置、存储介质及电子设备。其中，性能测试方法包括：向待测试的人脸识别设备提供测试视频流；获取人脸识别设备输出的测试结果；基于测试结果与测试视频流的参考库中的数据计算人脸识别设备的性能指标，该参考库中的数据是根据测试视频流中的可抓拍对象确定的。上述方法在测试人脸识别设备的性能时，整个测试流程从提供视频流到计算性能指标都是自动完整的，显著提高了测试效率，也便于进行大量测试。并且，采用自动化流程还有利于避免手工统计中存在的错误，提高性能指标计算的精确性，此外，性能测试所使用的视频流可以反复使用，有利于从源头上改善测试的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 设备 性能 测试 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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