[发明专利]一种基于双激光光谱的熔覆样品检测样品室及方法在审
| 申请号： | 202011393927.8 | 申请日： | 2020-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN112345472A | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 许增炜;许志顺 | 申请（专利权）人： | 泉州市威互科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25;G01N21/01;G01N21/15 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 362000 福建省泉州*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于双激光光谱的熔覆样品检测样品室及方法，属于熔覆样品表面检测技术领域。一种基于双激光光谱的熔覆样品检测样品室包括了Nd:YAG激光器、激光器控制器、计算机、光谱仪、反射镜片、样品室上盖、样品仓体、温度传感器、聚焦透镜、湿度传感器、升降装置、吹风装置、待测样品、样品台、探测器支架、带孔反射镜、环形LED灯、微型相机、聚焦透镜、光纤探测器；本发明利用共线双脉冲激光，提高检测的灵敏度以及检测的复现性；同时利用真空密闭环境以及等离子体约束的方式结合，提高熔覆层样品表面的光谱强度，提高熔覆层检测的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 激光 光谱 样品 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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