[发明专利]一种端面装配微小间隙非接触测量装置的测量方法在审

专利信息
申请号: 202011389190.2 申请日: 2020-12-02
公开(公告)号: CN112378340A 公开(公告)日: 2021-02-19
发明(设计)人: 曹宇;孙鹏飞;胡秀琨;赵齐戬;张连新;李芳;付磊;于长志;肖虹 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
主分类号: G01B11/14 分类号: G01B11/14
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 张超
地址: 621000*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供了一种端面装配微小间隙非接触测量装置的测量方法,包括以下步骤:打开电源,并使位移台和光谱传感器参数初始化;通过调节旋钮调节升降平台,使光谱传感器的光斑位于间隙周围;通过平板主机设置位移台循环扫查位移坐标、移动速度和光谱采样频率,使光谱传感器能对间隙进行循环扫查;光谱传感器开始采集数据,并将数据回传给平板主机;平板主机检测回传数据是否超出量程;统计超出量程的数据点个数C;得出间隙值=C*V/F。采用本方案,利用光谱共焦传感器进行测量,光谱共焦位移传感器是基于波长位移调制的非接触式位移传感器,工作频率达上千赫兹,对于被测件表面纹理、倾斜和颜色不敏感,适用范围广,测量精度高,分辨率可达纳米级。
搜索关键词: 一种 端面 装配 微小 间隙 接触 测量 装置 测量方法
【主权项】:
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