[发明专利]一种基于粗糙集的高光谱成像参数优化设计方法有效
申请号: | 202011366930.0 | 申请日: | 2020-11-27 |
公开(公告)号: | CN113094651B | 公开(公告)日: | 2023-06-09 |
发明(设计)人: | 李娜;赵慧洁;曹玉欣;徐萌 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G06F17/18 | 分类号: | G06F17/18;G01N21/25 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种基于粗糙集的高光谱成像参数优化设计方法,包含以下步骤:(1)高光谱成像过程分析,确定成像过程中的主要影响参数;(2)建立成像参数数据表,利用基于熵的离散化方法对数据表中的成像关键参数取值进行划分;(3)依据步骤(2)中划分的取值区间,建立离散化成像参数数据表,基于布尔属性映射,采用关联规则对成像数据表进行挖掘,建立高光谱成像过程关键影响参数与矿物识别能力的影响约束关系;(4)基于步骤(3)中建立的离散化后数据表,基于粗糙集与知识粒度计算成像关键参数对矿物识别能力的属性重要度;(5)基于偏最小二乘法建立多元线性回归模型,建立成像参数与矿物识别能力间定量化方程;(6)依据步骤(3)中的影响约束关系和步骤(4)中的各关键影响参数对矿物识别能力的属性重要度,对步骤(5)中的定量化方程优化求解,得到矿物识别能力最佳的高光谱成像参数组合。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 粗糙 光谱 成像 参数 优化 设计 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学,未经北京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011366930.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:排列供给装置
- 下一篇:像素阵列基板和包括像素阵列基板的显示装置