[发明专利]一种基于粗糙集的高光谱成像参数优化设计方法有效

专利信息
申请号: 202011366930.0 申请日: 2020-11-27
公开(公告)号: CN113094651B 公开(公告)日: 2023-06-09
发明(设计)人: 李娜;赵慧洁;曹玉欣;徐萌 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06F17/18 分类号: G06F17/18;G01N21/25
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种基于粗糙集的高光谱成像参数优化设计方法,包含以下步骤:(1)高光谱成像过程分析,确定成像过程中的主要影响参数;(2)建立成像参数数据表,利用基于熵的离散化方法对数据表中的成像关键参数取值进行划分;(3)依据步骤(2)中划分的取值区间,建立离散化成像参数数据表,基于布尔属性映射,采用关联规则对成像数据表进行挖掘,建立高光谱成像过程关键影响参数与矿物识别能力的影响约束关系;(4)基于步骤(3)中建立的离散化后数据表,基于粗糙集与知识粒度计算成像关键参数对矿物识别能力的属性重要度;(5)基于偏最小二乘法建立多元线性回归模型,建立成像参数与矿物识别能力间定量化方程;(6)依据步骤(3)中的影响约束关系和步骤(4)中的各关键影响参数对矿物识别能力的属性重要度,对步骤(5)中的定量化方程优化求解,得到矿物识别能力最佳的高光谱成像参数组合。
搜索关键词: 一种 基于 粗糙 光谱 成像 参数 优化 设计 方法
【主权项】:
暂无信息
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