[发明专利]一种相控阵天线近场测试时的姿态调整方法及调整装置在审
| 申请号： | 202011362160.2 | 申请日： | 2020-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN112490669A | 公开（公告）日： | 2021-03-12 |
| 发明（设计）人： | 杨永真;贾文铮;卞玉柱;李永亮 | 申请（专利权）人： | 北京无线电测量研究所 |
| 主分类号： | H01Q3/08 | 分类号： | H01Q3/08;H01Q3/34;G01R1/04;G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 朱晓彤 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种相控阵天线近场测试时的姿态调整方法及调整装置，属于天线近场测试技术领域。本姿态调整方法，包括如下步骤：控制测量探头在竖直平面内沿矩形路线行走一圈，选取测量探头在矩形路线多个点和在相控阵天线上对应多个点，获得相对两点之间的距离；根据获得相对两点之间的距离与矩形路线的长宽，计算出相控阵天线的方位角度和俯仰角度；根据得到的方位角度调整相控阵天线的方位角度调整；根据得到的俯仰角度调整相控阵天线的俯仰角度调整。本发明还提供一种相控阵天线近场测试时姿态调整装置。本姿态调整方法可实现大型相控阵天线近场测试时在暗室中位置和姿态的调整，提升相控阵天线近场测试的效率和进度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 相控阵 天线 近场 测试 姿态 调整 方法 装置 | ||
【主权项】：
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