[发明专利]一种高分辨率的冷中子成像材料及其制备方法和应用在审
申请号: | 202011291442.8 | 申请日: | 2020-11-18 |
公开(公告)号: | CN114578409A | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 孙承华;陈龙;周树云;符玉华;胡秀杰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院理化技术研究所 |
主分类号: | G01T3/00 | 分类号: | G01T3/00;G01N23/05 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 邹欢 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开一种高分辨率的冷中子成像材料,所述冷中子成像材料中包含氧化钆与乳剂。该材料的设计突破了耦合屏的限制,提高了材料的分辨率;该材料在冷中子成像领域的分辨率可达10μm。本发明还公开了该冷中子成像材料的制备方法和应用。 | ||
搜索关键词: | 一种 高分辨率 中子 成像 材料 及其 制备 方法 应用 | ||
【主权项】:
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