[发明专利]基于高斯过程回归的试验样本点选取方法在审
申请号: | 202011290863.9 | 申请日: | 2020-11-17 |
公开(公告)号: | CN114510812A | 公开(公告)日: | 2022-05-17 |
发明(设计)人: | 刘若鹏;赵治亚;周鑫;何洋 | 申请(专利权)人: | 深圳光启尖端技术有限责任公司 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F17/18;G06F17/15;G06F111/10 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 谭玲玲 |
地址: | 518057 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供了一种基于高斯过程回归的试验样本点选取方法,包括:在仿真数据进行性态分析的过程中,确定高斯过程回归模型的核函数;确定误差响应函数;获取实际工程问题中性能测试的历史数据,生成训练数据集;导入训练数据集,运用高斯过程回归模型,确定核函数的初始化超参数;进行初始化试验构建;运用高斯过程回归模型进行采样的迭代优化,选取最优采样点集合;迭代优化结束后,输出选取的最优采样点集合。本发明解决了现有技术中试验样本点选取效率低的问题。 | ||
搜索关键词: | 基于 过程 回归 试验 样本 选取 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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