[发明专利]一种黑体辐射源辐射温度的探测方法

摘要

本发明公开了一种黑体辐射源辐射温度的探测方法，包括以下步骤，步骤1)、采用两通道探测设备对黑体辐射源的辐射温度进行探测，并直接获取两通道探测设备的两个探测通道的响应系数二维分布，设两个探测通道的响应系数二维分布分别为η1和η2，获得响应系数的比值二维分布为k，k＝η1/η2；步骤2)、黑体辐射源发出的X射线分别同时穿过两个探测通道，两通道探测设备的两个探测通道分别同时记录X射线穿过其中形成的两幅单能X射线像，两幅单能X射线像对应的黑体辐射源发出的X射线频率为ν1和ν2；步骤3)、利用黑体辐射标准公式，求解关于辐射温度T二维分布的一元方程。通过本方法能够减少标定工作并提高探测效率。