[发明专利]一种用于荧光强度基底计算的方法在审
申请号: | 202011275934.8 | 申请日: | 2020-11-16 |
公开(公告)号: | CN112461805A | 公开(公告)日: | 2021-03-09 |
发明(设计)人: | 张胜军;汤四媛;罗继全;李昆鹏 | 申请(专利权)人: | 三诺生物传感股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N33/53;G01N33/58 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 肖平安 |
地址: | 410205 湖南省长*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明涉及荧光免疫检测技术领域,更具体地说,涉及一种用于荧光强度基底计算的方法。本发明所述用于荧光强度基底计算的方法,通过先确定所述荧光强度散点图中T峰、C峰的峰值位置点,以及T峰、C峰的起始位置点、终止位置点,然后将对应峰起始点和峰终止点连线得到该线关于输出数据序号对应的线性函数,即T峰、C峰分别得到其对应的基底函数;采用本发明所述用于荧光强度基底计算的方法,使得在计算浓度时计算T峰、C峰的峰值或T峰、C峰的峰面积先减去其对应的固定基底或减去其对应的基底函数进行校正,其相较现有固定基底计算方法更有利于降低浓度检测的误差,并有效解决在检测较低浓度样本时仪器测不出值的技术问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 荧光 强度 基底 计算 方法 | ||
【主权项】:
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