[发明专利]PCIE链路的稳定性测试方法、装置、计算机设备和介质在审
| 申请号： | 202011260110.3 | 申请日： | 2020-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN112416672A | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 许飞;魏冰清;王永懿;张珅;秦晓宁 | 申请（专利权）人： | 宁畅信息产业（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 宋永慧 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种PCIE链路的稳定性测试方法、装置、计算机设备和存储介质。涉及计算机应用技术领域，该方法根据待测PCIE链路中GPU的拓扑结构构建GPU通信环；向GPU通信环中的目标GPU发送测试指令，控制目标GPU根据测试指令中测试数据块的大小生成测试数据块，并控制GPU通信环包括的各个GPU依次传输测试数据块；在传输测试数据块的过程中，获取GPU通信环包括的各个GPU的状态数据，根据各状态数据确定待测PCIE链路的测试结果。本申请实施例，基于GPU通信环将待测PCIE链路上的所有通信节点连接起来，通过控制GPU通信环包括的各个GPU依次传输测试数据块实现了对待测PCIE链路整体加压，因此可以实现测试PCIE链路的整体性能，测试结果更能反映待测PCIE链路的整体性能。 | ||
| 搜索关键词： | pcie 稳定性 测试 方法 装置 计算机 设备 介质 | ||
【主权项】：
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