[发明专利]对涂覆基底的重量的基于x射线的测定在审
| 申请号： | 202011249690.6 | 申请日： | 2020-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN112945360A | 公开（公告）日： | 2021-06-11 |
| 发明（设计）人： | 格特詹·霍夫曼;托比亚斯·内贝尔;塞巴斯蒂安·蒂克西尔;迈克尔·休斯 | 申请（专利权）人： | 霍尼韦尔国际公司 |
| 主分类号： | G01G9/00 | 分类号： | G01G9/00;G01N23/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 蒋骏;陈岚 |
| 地址： | 美国北卡*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明题为“对涂覆基底的重量的基于x射线的测定”。本发明公开了一种测量装置(100)，其包括x射线传感器(110)，该x射线传感器包括x射线源(110a)和x射线检测器(110b)，该x射线源具有高压电源(112)，用于发射x射线光谱，该x射线检测器用于响应于传输穿过涂覆基底(180)之后接收到的x射线提供测量的x射线信号值，该涂覆基底包括其上具有涂层材料(180b)的片材料(180a)。第二传感器(120)是用于提供第二传感器信号的β计量器或红外传感器，该第二传感器信号包括用于测定涂覆基底或片材料的每单位面积的总重量的数据。计算设备(150)接收测量的x射线信号值和第二传感器信号，该第二传感器信号被配置为实现基于x射线的计算，该计算利用涂层材料和片材料的吸收系数、测量的x射线信号值、x射线光谱和重量测量作为计算约束，以用于计算至少涂层材料的每单位面积的重量。 | ||
| 搜索关键词： | 基底 重量 基于 射线 测定 | ||
【主权项】：
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