[发明专利]一种用于红外激光光源的高精度高散射率带宽测量系统在审
| 申请号： | 202011242502.7 | 申请日： | 2020-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN112345498A | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 杨振;张建军;张建隆;郭鑫民;胡海力;张勇 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01N21/49 | 分类号： | G01N21/49;G01N21/59;G01N21/55 |
| 代理公司： | 哈尔滨龙科专利代理有限公司 23206 | 代理人： | 高媛 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 一种用于红外激光光源的高精度高散射率带宽测量系统，属于光电子技术和仪器仪表领域。它可准确测量不透光材料表面的吸收率、散射率。待测件设置在散射光收集系统处并通过连续区域测量调节装置调节与散射光收集系统的相对位置，观测瞄准系统和红外激光器均设置在系统控制箱上，红外激光器向待测件发射激光，散射光收集系统收集待测件的散射光，数据处理中心接收并处理散射光收集系统发送的信号，数据处理中心安装在系统控制箱上，观测瞄准系统用于观测并确保光源照射在被测样品的被测量区域内。本发明的测量系统解决了传统散射率测量系统测量带宽低、响应慢、测量区域不连续、测量红外波长单一的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 红外 激光 光源 高精度 散射 带宽 测量 系统 | ||
【主权项】：
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