[发明专利]晶片检测装置在审
| 申请号： | 202011227944.4 | 申请日： | 2020-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN114441805A | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 傅廷明 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 单晓双;叶明川 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本申请提供一种晶片检测装置，包括一夹持具与一探针卡。夹持具用以夹持一晶片。探针卡设置于一地面，并位于夹持具与地面之间，且位于夹持具的下方，且探针卡的一检测侧背向地面。夹持具夹持晶片朝向探针卡移动，并使晶片的一检测面接触探针卡。本申请能够提升检测工艺的时间以及效率，可降低操作风险，大幅提升工艺品质。 | ||
| 搜索关键词： | 晶片 检测 装置 | ||
【主权项】：
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