[发明专利]光刻胶涂布方法和涂布装置在审

专利信息
申请号: 202011215536.7 申请日: 2020-11-04
公开(公告)号: CN112255885A 公开(公告)日: 2021-01-22
发明(设计)人: 李飞;李文亮;吴鹏 申请(专利权)人: 上海华力集成电路制造有限公司
主分类号: G03F7/16 分类号: G03F7/16
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 顾浩
地址: 201315 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种光刻胶涂布方法,包含:在晶圆的上方至少二个点喷出光刻胶。本发明还提供了一种光刻胶涂布装置,包含:喷盘,所述喷盘上设有至少二个喷口。据此,本发明能够达到的技术效果在于,能够使得光刻胶在晶圆上的涂布均匀性提高,并且,适用于更大尺寸的晶圆,能够覆盖整个晶圆,降低光刻胶分布上晶圆边缘分布不到的不良,不需要旋转或者提高旋转速度,不会导致晶圆因离心作用产生的应力而甩出或破裂。
搜索关键词: 光刻 胶涂布 方法 装置
【主权项】:
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