[发明专利]可靠性测试方法及系统、设备、存储介质在审
| 申请号： | 202011194839.5 | 申请日： | 2020-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN114444245A | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 范伟海 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司;中芯国际集成电路制造（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F119/02;G06F119/04 |
| 代理公司： | 上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327 | 代理人： | 高静 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种可靠性测试方法及系统、设备和存储介质，可靠性测试方法包括：确定待测试器件的实际工作条件以及恒定的参考工作条件，实际工作条件包括一个或多个参数变量，参考工作条件和实际工作条件的参数变量相同；在参考工作条件下对待测试器件进行加速退化测试，获得参考寿命；获取累积寿命加速度，累积寿命加速度为对实际工作条件相对于参考工作条件的寿命加速比例与相对应的周期占空比的乘积进行积分获得；计算参考寿命与累积寿命加速度的比值，获得待测试器件在实际工作条件下的实际寿命。本发明利用累积寿命加速度计算实际寿命，降低可靠性测试的复杂度，且使得测试方法能够适用于测得任何模式的工作条件对应的实际寿命，提高了可靠性测试的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 可靠性 测试 方法 系统 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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