[发明专利]一种可扩展量子测试装置在审
| 申请号： | 202011180850.6 | 申请日： | 2020-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN112327134A | 公开（公告）日： | 2021-02-05 |
| 发明（设计）人： | 李生好;雷国平;吴媛媛 | 申请（专利权）人： | 重庆工程职业技术学院 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 济南鼎信专利商标代理事务所(普通合伙) 37245 | 代理人： | 陈良 |
| 地址： | 402260 重*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明涉及量子测试技术领域，尤其涉及一种可扩展量子测试装置，包括底座、上安装板、下安装板和控制板；底座设置在地面上，下安装板设置在底座顶部；控制板设置在上安装板上，控制板上设置有两组驱动机构，驱动机构的底部均设置有导向杆；导向杆上设置有检测探头；导向杆上穿插设置有导管，导管的底部设置有套杆；检测探头包括套管、横板、限位板和探针；横板的底部竖直设置有第一导电片；探针安装在套管上，探针的一侧设置有限位板；本发明无需使用焊盘减少对量子芯片的损坏，与传统的人工检测方式效率大大提高；此外安装槽根据量子芯片进行定制，检测块与基座安装好即可；其余检测组件无需调整，便于扩展检测不同型号的芯片，使用更加方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 扩展 量子 测试 装置 | ||
【主权项】：
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