[发明专利]一种CMOS图像传感器成像畸变的校正方法在审

专利信息
申请号: 202011176803.4 申请日: 2020-10-29
公开(公告)号: CN114429425A 公开(公告)日: 2022-05-03
发明(设计)人: 徐春锋 申请(专利权)人: 杭州赛德视科技有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;H04N5/374
代理公司: 北京恒和顿知识产权代理有限公司 11014 代理人: 沈杨
地址: 311100 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种CMOS图像传感器成像畸变的校正方法,通过构建图像的畸变校正模型,采用物理校正和算法校正两个校正步骤,校正芯片内部设有畸变校正模型,通过畸变校正模型进行算法优化和数字机芯的参数处理,能够优化匹配更多的数字机芯,同时设置合理的畸变率区间,通过校正芯片单元进行智能计算获取准确的畸变率分布参数,根据校正后图像的实际效果反馈,不断的精确畸变率分布参数,从而获得更好的畸变率校正效果,运算简单,能够快速对原始图像进行运算处理获得很好的校正效果,且适用于各种规格的镜头和摄像设备,可以优化各种各样镜头产生的畸变,基于各规格设备参数的记忆存储,能够快速识别和读取存储数据。
搜索关键词: 一种 cmos 图像传感器 成像 畸变 校正 方法
【主权项】:
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