[发明专利]基于混沌激光的光学元件高反射率测量系统在审
| 申请号： | 202011144722.6 | 申请日： | 2020-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN112234420A | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 王圣浩;刘世杰;李灵巧;徐学科;吴福林;潘靖宇;王微微;徐天柱;邵建达 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司 |
| 主分类号： | H01S3/083 | 分类号： | H01S3/083 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种基于混沌激光的光学元件高反射率的测量系统，包括激光器、光电探测器和示波器，还包括光纤隔离器、第一光纤耦合器、供待测光学元件放置的样品台、第一姿态调节机构、第二姿态调节机构和第二光纤耦合器。本发明的测量灵敏度大大提高，测量系统可以实现小型化。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 混沌 激光 光学 元件 反射率 测量 系统 | ||
【主权项】：
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