[发明专利]批量套绘多测次多个断面地形的方法有效
| 申请号： | 202011142066.6 | 申请日： | 2020-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN112580118B | 公开（公告）日： | 2023-03-24 |
| 发明（设计）人： | 侯卫国;陈前海;何勇;胡春燕;唐金武 | 申请（专利权）人： | 长江勘测规划设计研究有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F30/00 | 分类号： | G06F30/00 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 陈家安 |
| 地址： | 430010 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了批量套绘多测次多个断面地形的方法，包括依次包括如下步骤：第一步：整理多测次多个断面地形数据并进行合理性检查；第二步：批量绘制所有断面横纵坐标系图、图框；第三步：编制程序批量生成各断面SCR文件；第四步：批量快速套绘断面。本发明克服了现有方法只是绘制一个测次的断面，无法实现多测次多个断面的套绘，而且不能批量成图的缺点。具有快速方便，不易出错，易于修改和可以批量出图的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 批量 套绘多测次多个 断面 地形 方法 | ||
【主权项】：
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