[发明专利]一种MOS开关吸收电路、系统及尖峰电压吸收方法在审

专利信息
申请号: 202011129949.3 申请日: 2020-10-21
公开(公告)号: CN114389442A 公开(公告)日: 2022-04-22
发明(设计)人: 陈睿;赵振江;靳本豪;李诚;孙哲锋;朱配清;王烨;李侃;赵学荟;胡立庆 申请(专利权)人: 航天科工惯性技术有限公司
主分类号: H02M1/32 分类号: H02M1/32;H02M1/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100074 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种MOS开关吸收电路、系统及尖峰电压吸收方法,所述MOS开关通用吸收电路包括:硬开关MOS管、与硬开关MOS管连通的电平输入端、箝位电容、以及控制箝位电容与硬开关MOS管连通与否的吸收控制单元;吸收控制单元包括箝位MOS管,箝位MOS管的源极与电平输入端连接,箝位MOS管的漏极通过箝位电容与硬开关MOS管的漏极连接,箝位MOS管的栅极、源极间还并联有与电平输入端、箝位电容串联的箝位二极管;一充放电单元与箝位MOS管的栅极及电平输入端连接。解决了现有吸收电路中MOS开关速度慢、能量耗散大的问题;且结合充放电单元,实现了对箝位电容与硬开关MOS管并联与否的自动控制,使得本发明的结构及方法,在MOS开关种类的应用中具有极强的通用性。
搜索关键词: 一种 mos 开关 吸收 电路 系统 尖峰 电压 方法
【主权项】:
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