[发明专利]高可靠性高性能薄膜微波衰减片的制作方法有效

专利信息
申请号: 202011123982.5 申请日: 2020-10-20
公开(公告)号: CN112332064B 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: 陈建良 申请(专利权)人: 苏州市新诚氏通讯电子股份有限公司
主分类号: H01P11/00 分类号: H01P11/00
代理公司: 苏州周智专利代理事务所(特殊普通合伙) 32312 代理人: 周雅卿
地址: 215000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种高可靠性高性能薄膜微波衰减片的制作方法,包括以下步骤:对陶瓷基板背面采用厚膜印刷工艺印刷高温银浆,在陶瓷基板的正面焊盘处采用厚膜印刷工艺印刷高温银浆,然后放入烧结炉进行烧结,在陶瓷基板正面涂布光刻胶、曝光、显影后分别溅射Ti/W金属层和Ni/Cr金属层,在去胶液中去除光刻胶,最后涂布光刻胶、曝光、显影后真空溅射电镀层,采用高温对TaN电阻层进行氧化,使其表面形成氧化层,对电阻进行微调,氧化层对电阻起到保护的作用。本发明减少了工艺步骤,极大提高了衰减电路的精度,保证产品的质量。
搜索关键词: 可靠性 性能 薄膜 微波 衰减 制作方法
【主权项】:
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