[发明专利]基于热流的功率半导体器件特征频率提取方法及系统在审
| 申请号： | 202011122486.8 | 申请日： | 2020-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN112347614A | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 马柯;徐梦琦 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06Q10/04;G06F119/08 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 徐红银 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于热流的功率半导体器件特征频率提取方法，包括：给功率半导体器件施加阶跃损耗，记录器件时域热阻抗曲线和输出热流曲线；对所述时域热阻抗曲线进行频域转换，得到频域热阻抗模型及其特征频率个数及区间；结合所述频域热阻抗模型的特征频率，对所述时域输出热流曲线进行拟合，提取出功率半导体器件的特征频率值。进一步的，对时域热阻抗曲线进行曲线拟合，提高频域热阻抗模型的特征频率的准确度。对应的，本发明还提供了上述方法对应的系统、终端以及介质。本发明简化了频域热阻抗模型参数提取过程，提高了参数的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 热流 功率 半导体器件 特征 频率 提取 方法 系统 | ||
【主权项】：
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