[发明专利]性能测试结果分析方法、装置、电子设备以及存储介质在审
申请号: | 202011118338.9 | 申请日: | 2020-10-19 |
公开(公告)号: | CN114385476A | 公开(公告)日: | 2022-04-22 |
发明(设计)人: | 田霞;白龙辉;刘宁;黄智勇;武峥;武肖飞;夏坤;赵大平;郝忠华;孙前方 | 申请(专利权)人: | 卫宁健康科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 200072 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种性能测试结果分析方法、装置、电子设备以及存储介质。该方法包括:获取软件性能的性能测试脚本以及各测试事务的性能指标数据;基于各所述测试事务的性能指标数据以及对应的性能测试目标,确定未达标的性能指标数据对应的测试事务;获取所述性能测试脚本未达标测试事务的所有请求,对所述请求进行解析得到各请求的请求参数,以实现自动生成性能测试分析报告,操作方便,有效降低测试人员工作强度,规避了人工分析处理测试结果数据造成的差错,提高工作效率和质量。 | ||
搜索关键词: | 性能 测试 结果 分析 方法 装置 电子设备 以及 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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