[发明专利]一种学业增值分析方法及装置在审

专利信息
申请号: 202011106038.9 申请日: 2020-10-15
公开(公告)号: CN112465291A 公开(公告)日: 2021-03-09
发明(设计)人: 张琳;任涛;张青华 申请(专利权)人: 北京教育考试院;北京邮电大学
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06;G06Q50/20
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 莎日娜
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种学业增值分析方法及装置。所述方法包括:获取待评价对象的学业成绩数据以及待评价对象对应的背景信息的学业成绩数据,并根据背景信息的学业成绩数据,构建待评价对象的增值基准线,将待评价对象的增值基准线和待评价对象的学业成绩数据分别输入量化增值模型,通过量化增值模型,得到针对待评价对象的增值评价结果。通过构建待评价对象的增值基准线,并根据增值基准线,对待评价对象的学业成绩数据进行评价,不需要进行样本的正态分布假设和样本间的斜率同质假设的验证,适用范围更广,能够得到更加准确的增值评价结果。
搜索关键词: 一种 学业 增值 分析 方法 装置
【主权项】:
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