[发明专利]一种红外增透的二氧化铪介质薄膜及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202011103988.6 申请日: 2020-10-15
公开(公告)号: CN112241031B 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 赵九蓬;谷金鑫;豆书亮;李垚;魏航;任飞飞 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G02B1/115 分类号: G02B1/115;C23C14/02;C23C14/08;C23C14/58;C23C14/35
代理公司: 哈尔滨华夏松花江知识产权代理有限公司 23213 代理人: 侯静
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种红外增透的二氧化铪介质薄膜及其制备方法,它属于红外增透领域。本发明要解决现有Si基底透过率较低,而HfO2薄膜存在增透极限的问题。红外增透的二氧化铪介质薄膜由Si基底及一侧设置的HfO2微纳结构层组成,或红外增透的二氧化铪介质薄膜由Si基底及两侧设置的HfO2微纳结构层组成。制备方法:一、清洗基片;二、HfO2薄膜制备;三、微纳结构加工。本发明用于红外增透的二氧化铪介质薄膜及其制备。
搜索关键词: 一种 红外 氧化 介质 薄膜 及其 制备 方法
【主权项】:
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